蘇州非標定制RO內徑檢具 內徑塞規(guī)

     具有孔或軸的大極限尺寸和小極限尺寸為公稱尺寸的標準測量面(測頭)，能反映控制被檢孔或軸邊界條件的無刻線長度測量器具。

     使用量規(guī)可檢驗被檢尺寸不超過大極限尺寸，以及不小于小極限尺寸，其結構簡單，通常是一些具有準確尺寸和形狀的實體，分通端(規(guī))和止端(規(guī))，如圓柱體、圓錐體、塊體平板等。光滑極*規(guī)主要分為塞規(guī)、環(huán)規(guī)和卡規(guī)三大類。

    塞規(guī)是用于孔徑檢驗的光滑極*規(guī)，其測量面為外圓柱面、球面等。其中，塞規(guī)尺寸具有被檢孔徑小極限尺寸的為孔用通規(guī)，具有被檢孔徑大極限尺寸的為孔用止規(guī)。

    環(huán)規(guī)是用于軸徑檢驗的光滑極*規(guī)，其測量面為內圓環(huán)面。其中，圓環(huán)直徑具有被檢軸徑大極限尺寸的為軸用通規(guī)，具有被檢軸徑小極限尺寸的為軸用止規(guī)。

    卡規(guī)是用于軸徑檢驗的光滑極*規(guī)，其測量面為兩平行內表面。其中，兩測量面的間距具有被檢軸徑大極限尺寸的為軸用通規(guī)，具有被檢軸徑小極限尺寸的為軸用止規(guī)。

塞規(guī)規(guī)則

    通端(規(guī))：模擬大實體邊界，檢驗孔、軸或距離的體外作用尺寸是否超過大實體邊界，測頭在允許公差內通過被檢要素。

    止端(規(guī))：檢驗孔、軸或距離的實際尺寸是否超過小實體尺寸，測頭在允許公差內不能通過被檢要素。

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